W dniach 16-18 września 2024 roku w hotelu Bińkowski w Kielcach odbędzie się Międzynarodowa Konferencja Naukowa „New Trends in Metrology”. Wydarzenie, organizowane jest przez Polską Unię Metrologiczną (PUM). Partnerami wydarzenia są Politechniką Lubelską i Główny Urząd Miar. W konferencji wezmą udział naukowcy, inżynierowie i specjaliści z całego świata, aby omówić najnowsze osiągnięcia i trendy w metrologii.
Głównymi prelegentami „New Trends in Metrology” będą: prof. Aime Lay Ekuakille z Uniwersytetu w Salento, prof. Beata Godlewska-Żyłkiewicz Kierownik Zakładu Chemii Analitycznej w Wydziale Chemii Uniwersytetu w Białymstoku, Luca De Vito z Uniwersytetu Sannio, Harald W. Scholz z Wspólnego Centrum Badawczego Komisji Europejskiej, Miruna Dobre, wiceprzewodnicząca (GA) w EURAMET, Piotr Sobecki, Radca ds. rozwiązań metrologicznych opartych na sztucznej inteligencji oraz Kierownik Laboratorium Sztucznej Inteligencji w Zakładzie Technologii Cyfrowych w Głównym Urzędzie Miar i prof. Politechniki Warszawskiej Zbigniew Humienny.
„Poprzednia edycja konferencji,, News Trends in Metrology w październiku 2022 była niezwykle udana, jednakże w tegorocznej edycji mamy jeszcze większe ambicje. Planujemy więcej inspirujących wykładów, ciekawych prezentacji oraz skupimy się na intensywnej wymianie doświadczeń, które przyczynią się do dalszego rozwoju naszego metrologicznego środowiska. Jestem przekonany, że konferencja w Kielcach będzie nie tylko okazją do pogłębienia wiedzy, ale także do nawiązania nowych, owocnych współprac naukowych oraz biznesowych.” – powiedział prof. Jerzy Józwik, Dyrektor Polskiej Unii Metrologicznej
Prof. Beata Godlewska- Żyłkiewicz w swoim referacie omówi metrologiczne wyzwania związane z oznaczaniem NPs w żywności, problemy specyficzne dla techniki sp-ICP-MS oraz przykłady jej zastosowań. Nanometrologia, nowa gałąź metrologii, zajmuje się pomiarami obiektów w skali nanometrycznej (1-100 nm) i łączy metrologię chemiczną i fizyczną, z uwzględnieniem unikalnych właściwości nanomateriałów (NMs) wykorzystywanych w różnych dziedzinach, w tym w rolnictwie i przetwórstwie żywności. Ocena bezpieczeństwa żywności zawierającej nanocząstki (NPs) wymaga miarodajnych metod analitycznych, takich jak spektrometria mas z jonizacją w plazmie sprzężonej indukcyjnie (sp-ICP-MS), która pozwala na szczegółową analizę NPs, mimo pewnych ograniczeń.
Prof. Humienny wygłosi referat nt. Dlaczego metrolog potrzebuje tolerancji geometrycznych na rysunku konstrukcyjnym wyrobu? Według profesora stosowanie odchyłek granicznych do tolerowania geometrii wyrobów nie uwzględnia specyfiki montażu i funkcjonowania części w zespole, co może prowadzić do różnych procedur pomiarowych i sporów między działami projektowania, produkcji oraz kontroli. Rozwiązaniem jest zastosowanie tolerancji geometrycznych, które precyzyjnie określają dopuszczalne odchyłki kształtu i położenia, umożliwiając jednoznaczną kontrolę jakości i eliminując konflikty między dostawcami a odbiorcami. ISO GPS, opracowywane przez ISO/TC 213, stanowi kompleksowy system norm wspierający jednoznaczną komunikację i poprawę jakości produkcji.
Luca de Vito będzie mówił o wykorzystaniu teorii próbki kompresyjnej (CS), co pozwala na znaczące zmniejszenie liczby punktów próbkowania potrzebnych do przechwytywania danych, co eliminuje zbędne informacje. Podczas wykładu zostanie przedstawiona koncepcja próbki kompresyjnej stosowana w projektowaniu i wdrażaniu systemów akwizycji danych, z celem poszerzenia pasma obserwacji lub zmniejszenia szybkości wyjściowej danych. Zalety tych nowych systemów akwizycji zostaną zilustrowane przykładami z dziedziny Internetu Rzeczy, rozproszonych systemów pomiarowych i diagnostyki.
Wykład kolejnego z keynote speakerów prof. Aimé Lay-Ekuakille z Uniwersytetu w Salento będzie poświęcony aparaturze diagnostycznej stosowanej w radiologii, aplikacjach biomedycznych oraz przemysłowych. Ten sprzęt wymaga regularnych i zaplanowanych cykli konserwacji, aby utrzymać jego wydajność. Kontrola jakości obejmuje pomiary i charakterystykę w celu oceny wydajności, wpływając zarówno na sprzęt, jak i wyniki obrazowe, z praktycznymi przykładami pomiarów sprzętu i oceny wyników dostarczanych przez urządzenia. Zgodność z normami i przepisami technicznymi jest niezbędna dla specjalistów pracujących w tej dziedzinie.
,,Tematyka konferencji „New Trends in Metrology”, którą jako Polska Unia Metrologiczna organizujemy, jest niezwykle istotna, ponieważ obejmuje kluczowe obszary współczesnej metrologii, które mają przełożenie na rozwój technologiczny i gospodarczy naszego świata. Przetwarzanie dużych zbiorów danych (Big Data) pozwala na analizę i interpretację ogromnych ilości danych pomiarowych, co z kolei pozwala na bardziej precyzyjne i dokładne pomiary oraz efektywne wykorzystanie ich wyników. Technologie laserowe, czy tomografia komputerowa w pomiarach oferują niespotykaną dotąd precyzję i szybkość, co jest kluczowe w wielu branżach, od medycyny po inżynierię. Konferencja New Trends in Metrology poświęcona tym tematom nie tylko promuje rozwój nauki i technologii, ale również przyczynia się do zacieśnienia współpracy między naukowcami i przemysłem, co wpływa na wprowadzenie innowacyjnych rozwiązań na rynek” – powiedział prof. Dariusz Mazurkiewicz, Zastępca Przewodniczącego Prezydium PUM
Na konferencji zostaną zaprezentowane również wyniki badań naukowych, będące efektem realizacji grantów naukowych, prac własnych i statutowych uczelni wyższych, instytutów naukowych PAN oraz sieci badawczych. Będzie można wziąć udział w wykładach plenarnych, panelach dyskusyjnych, sesjach plakatowych.
Jednym z wydarzeń towarzyszących Konferencji będzie wizyta w Świętokrzyskim Kampusie Laboratoryjnym GUM. To nowoczesny ośrodek badawczo-rozwojowy, który oferuje warunki do współpracy pomiędzy profesjonalną i innowacyjną metrologią laboratoryjną a gospodarką. Nowo otwarty Kampus jest wyposażony w najnowocześniejszą infrastrukturę pomiarową i zapewnia dokładność pomiarów na najwyższym wymaganym poziomie. Kampus powstał we współpracy z Politechniką Świętokrzyską.
,,Bardzo się cieszę, że druga edycja Międzynarodowej Konferencji Naukowej „New Trends in Metrology” odbędzie się w Kielcach, w mieście, w którym znajduje się nowo powstały Świętokrzyski Kampus Laboratoryjny Głównego Urzędu Miar. Kampus GUM oferuje doskonałe warunki do współpracy pomiędzy nauką a gospodarką. Powstanie tak nowoczesnego obiektu pokazuje, jak kluczowa jest metrologia w naszym dynamicznie zmieniającym się świecie. Metrologia nie tylko precyzyjnie mierzy, ale także generuje innowacje, wspiera rozwój technologii i wpływa na każdą dziedzinę życia, od nauki po przemysł. To jak metrologia oddziałuje na nasze codzienne życie zobaczycie na naszej konferencji! Zapraszamy do Kielc! -zachęca prof. Jacek Semaniak, Prezes Głównego Urzędu Miar.
Organizatorem wydarzenia jest Polska Unia Metrologiczna (PUM), organizacja założona w celu rozwoju j i promocji metrologii w Polsce. Wydarzenie objęte jest patronatem Lubelskiego Towarzystwa Naukowego, KBM PAN, Ministra Nauki, Prezesa Głównego Urzędu Miar, Prezydenta Lublina Krzysztofa Żuka, Marszałka Województwa Lubelskiego Jarosława Stawiarskiego, Rektora Politechniki Świętokrzyskiej, Rektora Politechniki Lubelskiej, POLSAR
Konferencję objęły patronatem medialnym: TVP Lublin, TVP Kielce, Radio Kielce, laboratoryjnie.pl, Forum Akademickie.
Strona konferencji: https://konferencja-pum.pollub.pl/