W dniach 16-18 września 2024 roku w hotelu Bińkowski w Kielcach odbędzie się druga edycja konferencji „New Trends in Metrology”, która zgromadzi czołowych ekspertów z różnych dziedzin metrologii. Organizatorem wydarzenia ponownie jest Polska Unia Metrologiczna, a tematyka konferencji obejmuje kluczowe obszary współczesnej metrologii. W programie konferencji przewidziano wykłady wybitnych naukowców z Europy, którzy omówią najnowsze osiągnięcia i wyzwania w dziedzinie metrologii.
Jednym z głównych prelegentów będzie prof. Beata Godlewska-Żyłkiewicz, kierownik Katedry Chemii Analitycznej i Nieorganicznej na Uniwersytecie w Białymstoku. W swoim wystąpieniu zwróci uwagę na zagadnienia związane z nanometrologią – nową dziedziną zajmującą się pomiarami w skali nanometrycznej. Skupi się między innymi na wyzwaniach metrologicznych związanych z analizą nanocząstek (NPs) w żywności.
Prof. Zbigniew Humienny z Politechniki Warszawskiej omówi znaczenie tolerancji geometrycznych w rysunkach konstrukcyjnych wyrobów. Jego wykład pokaże, jak precyzyjne określenie dopuszczalnych odchyłek kształtu i położenia może poprawić jakość produkcji oraz eliminować konflikty między dostawcami a odbiorcami.
Prof. Luca de Vito z Uniwersytetu Sannio w Benevento, Włochy, przedstawi teorię próbki kompresyjnej (CS), która umożliwia znaczące zmniejszenie liczby punktów próbkowania potrzebnych do przechwytywania danych. W swoim wystąpieniu pokaże, jak nowoczesne systemy akwizycji danych mogą poszerzyć pasmo obserwacji lub zmniejszyć szybkość wyjściową danych, co ma zastosowanie w dziedzinie Internetu Rzeczy oraz diagnostyki.
Z kolei prof. Aimé Lay-Ekuakille z Uniwersytetu w Salento skupi się na aparaturze diagnostycznej stosowanej w radiologii oraz aplikacjach biomedycznych i przemysłowych. Jego wykład poruszy kwestie związane z kontrolą jakości sprzętu diagnostycznego, podkreślając znaczenie regularnej konserwacji i zgodności z normami technicznymi.
W swoim wystąpieniu dr Piotr Sobecki z Głównego Urzędu Miar omówi zastosowanie wyjaśnialnej sztucznej inteligencji w odkrywaniu ukrytych wzorców w diagnostyce oraz metrologii. Jego prezentacja pokaże, jak AI może przekształcać subiektywne interpretacje danych w precyzyjne i zrozumiałe informacje, mające kluczowe znaczenie w podejmowaniu decyzji. Wprowadzi także koncepcję wirtualnych sensorów, które dzięki AI dostarczają głębszych wglądów w dane pomiarowe.
Miruna Dobre wystąpi z wykładem „Postępy w metrologii dzięki badaniom finansowanym przez UE: osiągnięcia i wyzwania”. Przedstawi historię i znaczenie współpracy badawczej w metrologii na poziomie europejskim, koordynowanej przez EURAMET. Dzięki finansowaniu z programów badawczych UE, takich jak EMRP, EMPiR i EMP, osiągnięto znaczące postępy w redefinicji Międzynarodowego Układu Jednostek Miar (SI). Kluczowe osiągnięcia obejmują m.in. realizację nowych standardów dla kilograma, ampera i kelwina, a także postępy w technologiach zegarów optycznych. W nadchodzącej dekadzie metrologia będzie musiała sprostać nowym wyzwaniom, takim jak wprowadzanie jednostek SI bezpośrednio w miejscach ich zastosowania i rozwijanie metrologii w obszarach takich jak zielony ład czy zdrowie.
„Tematyka konferencji 'New Trends in Metrology’, którą organizujemy, jest niezwykle istotna, ponieważ obejmuje kluczowe obszary współczesnej metrologii, które mają przełożenie na rozwój technologiczny i gospodarczy naszego świata” – podkreśla prof. Dariusz Mazurkiewicz, Zastępca Przewodniczącego Prezydium Polskiej Unii Metrologicznej.
Konferencja będzie jednym z ważniejszych, tegorocznych wydarzeń w świecie metrologii. Wydarzeniem, które nie tylko promuje rozwój nauki i technologii, ale także pozwala na wzmacnianie współpracy między naukowcami a przemysłem, przyczyniając się do wprowadzania innowacyjnych rozwiązań na rynek.
Szczegóły konferencji dostępne są tu: